這是一款3D光學(xué)坐標測量系統(tǒng),適合有變形分析、測試、檢驗等需求的高精度工業(yè)應(yīng)用場景。計量套件十分靈活,可與您的工作流程集成,兼容Contro X和PolyWorks等主流軟件,無論是在工作室內(nèi)還是室外,都能呈現(xiàn)好的效果。
計量套件既可作為光學(xué)測量解決方案獨立使用,也可作為參照工具,提高遠距三維掃描的精度。借助套件插件,您可以直接在Artec Studio中實現(xiàn)三維掃描+攝影測量的完整工作流程。
這是一款3D光學(xué)坐標測量系統(tǒng),適合有變形分析、測試、檢驗等需求的高精度工業(yè)應(yīng)用場景。計量套件十分靈活,可與您的工作流程集成,兼容Contro X和PolyWorks等主流軟件,無論是在工作室內(nèi)還是室外,都能呈現(xiàn)好的效果。
計量套件既可作為光學(xué)測量解決方案獨立使用,也可作為參照工具,提高遠距三維掃描的精度。借助套件插件,您可以直接在Artec Studio中實現(xiàn)三維掃描+攝影測量的完整工作流程。
使用高精度光學(xué)坐標測量系統(tǒng),讓飛機部件、船舶、風(fēng)力渦輪機等產(chǎn)品檢驗的流程信度更高,一目了然。
借助光學(xué)測量解決方案來分析不同環(huán)境條件和負載下的材料變形特性,而在這些流程中,快速的測量時間十分關(guān)鍵。計量套件非常適合分析貯罐、車輛部件、設(shè)計原型等物體的幾何變化。
將計量級三維掃描儀的密集點云和高精度套件光學(xué)測量值結(jié)合,可拓展中小型物體掃描儀的能力。既可以捕獲大型物體上的細節(jié)元素,又可以完整捕獲整個物體,確保累積誤差降至*低,體積精度維持較高水平。